图4:RFID的接触法测试原理
非破坏性攻击及其防范
非破坏性攻击主要针对具有微处理器的产品而言。微处理器本质上是成百上千个触发器、寄存器、锁存器和SRAM单元的集合,这些器件定义了处理器的当前状态,结合组合逻辑则可知道下一时钟的状态。许多类似系统的模拟效应可用于非侵入式的攻击,其中:
1. 每个晶体管和连线都具有电阻和电容特性,其温度、电压等特性决定了信号的传输延时。由于生产工艺参数的分散性,这些数值在单个芯片,或同种产品的不同芯片上差异很大。
2. 触发器在很短的时间间隔内采样并和阈值电压比较(与电源相关)。采样的时间间隔相对于时钟边沿是固定的,但不同的触发器之间可能差异很大。
3. 触发器仅在组合逻辑稳定后的前一状态上建立新的稳态。
4. 在CMOS门的每次翻转变化过程中,P和N管都会开启一个短暂的时间,从而在电源上造成一次短路。没有翻转的时刻,则电源电流很小。
5. 当输出改变时,电源电流会根据负载电容充放电变化。
和接触式IC卡不同的是,攻击RFID的黑客不能完全控制其电源和时钟线,理论上RFID针对非破坏性攻击的安全性能有所改善,但是实际情形可能并非如此,仍会面临一些危险。常见的攻击手段有电流分析攻击和故障攻击。 扁平线圈电感制造厂
基于MC56F8023的太阳能逆变器参考设计
方案概述
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